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西安紫光国芯内嵌自检测修复DRAM芯片荣获中国半导体创新产品和技术奖

发布日期:2017-3-30   点击次数:2140次   作者:管理员

       继荣获第十一届“中国芯”最具潜质奖之后,西安紫光国芯内嵌自检测修复DRAM芯片系列产品再度收获行业认可。323日拉开序幕的2017中国半导体市场年会暨第六届集成电路产业创新大会期间,西安紫光国芯历时数年开发的具有完全自主知识产权的内嵌自检测修复DRAM芯片荣获由中国半导体行业协会、中国电子材料行业协会、中国电子专用设备工业协会及中国电子报联合评选的第十一届(2016年度)中国半导体创新产品和技术奖

       该系列产品创新性的将自检测修复(ECC)技术内嵌到存储器芯片片内,是全球首系列商用的内嵌自检测修复(ECC)技术DRAM存储器产品, 与传统JEDEC标准DRAM芯片产品“即插即用”式兼容。

 



 

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