现在的位置:

首页  >>  关于我们  >>  公司动态

西安紫光国芯“内嵌自检测修复(ECC)DRAM芯片产品”喜获第十一届“中国芯”最具潜质产品奖

发布日期:2016-11-25   点击次数:2086次   作者:管理员

 

1124日,由工业和信息化部电子信息司指导、工信部软件与集成电路促进中心(CSIP)主办的2016年中国集成电路产业促进大会在成都隆重召开,大会的主题是打造安全可靠中国芯生态体系,会议聚焦高端芯片发展、核心技术与信息安全和产业创新与人才培养三大方面。

会议期间,第十一届“中国芯”评选“最具潜质产品”获奖名单揭晓,西安紫光国芯内嵌自检测修复(ECCDRAM芯片产品榜上有名。据了解,第十一届“中国芯”评选是“中国芯”历史上参选规模最大、参选规格最高、参选竞争最为激烈的一次评选。

内嵌自检测修复(ECC) DRAM芯片产品是西安紫光国芯历时数年开发的具有完全自主知识产权的DRAM系列存储器产品,该系列产品创新性的将自检测修复(ECC)技术内嵌到存储器芯片片内,是全球首系列商用的内嵌自检测修复(ECC)技术DRAM存储器产品。该系列产品接口覆盖SDRDDRDDR2DDR3接口,支持-55℃至125℃的超宽温应用需求,具有高宽温、高可靠、高位宽、多接口等特点,与传统JEDEC标准DRAM芯片产品“即插即用”式兼容。产品可广泛应用于网络设备、工业控制系统、工业计算机、硬盘、安防系统、医疗设备、汽车电子等应用领域。

 

 

        业务

版权所有西安紫光国芯半导体有限公司 All Rights Reserved. 陕ICP备14006572号
www.unisemicon.com | 联系总部